000 00839nam a2200289 4500
001 0002300
005 20260608202433.0
008 260224s1972 nyu
082 _a622.338 S346 0002300
245 0 0 _aInterpretación de perfiles
260 _aNew York
_bSchlumberger
_c1972
270 _a10/05/05 ; 13/01/03
300 _a2 v.
500 _aLa biblioteca posee v. I.
773 _g
942 _cLIBRO
110 2 _aSchlumberger
_9526
650 0 _aPerfilaje
_91603
650 0 _aPerfilaje de resistividad
_91750
650 0 _aPerfilaje sónico
_91751
650 0 _aPerfiles. Registro de pozos
_92804
650 0 _aPerfilaje de rayos gamma
_92805
650 0 _aMicroperfilaje
_92806
650 0 _aLaterología
_92807
650 0 _aLitología
_92342
999 _c129162
_d129162